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熱學(xué)綜合實(shí)驗(yàn)儀實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
  • 發(fā)布日期:2023-06-19      瀏覽次數(shù):385
    • 熱學(xué)綜合實(shí)驗(yàn)儀由控制箱和若干個(gè)功能組件構(gòu)成。
      控制箱內(nèi)集成了溫度、壓強(qiáng)、電壓、電流測量顯示單元;高精度長時(shí)間計(jì)時(shí)單元;PID控制/手動(dòng)控制單元;多組直流電源單元;四路傳感器接口單元等部件,可滿足常用熱學(xué)實(shí)驗(yàn)的測量與控制需求。
      功能組件針對某個(gè)或數(shù)個(gè)實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)成獨(dú)立組件。根據(jù)教學(xué)安排,可以很方便地變更實(shí)驗(yàn)內(nèi)容或添加功能組件。
      實(shí)驗(yàn)內(nèi)容:
      非金屬材料的導(dǎo)熱系數(shù)測量實(shí)驗(yàn);
      金屬材料的導(dǎo)熱系數(shù)測量實(shí)驗(yàn);
      金屬材料的比熱容測量實(shí)驗(yàn);
      空氣導(dǎo)熱系數(shù)測量實(shí)驗(yàn);
      金屬材料膨脹系數(shù)測量實(shí)驗(yàn)。

      133110544230203195.jpg

      JCPH4A綜合光電效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀組合式,可以不斷擴(kuò)充實(shí)驗(yàn)內(nèi)容;光電流放大器采用高檔運(yùn)放及特殊電路設(shè)計(jì),穩(wěn)定可靠。
      實(shí)驗(yàn)內(nèi)容:
      普朗克常數(shù)測定(零電流法,補(bǔ)償法、拐點(diǎn)法)。
      太陽能電池(硅光電池)基本特性測量。
      光電二極管基本特性測量。
      光敏電阻基本特性測量。

      JCP8A布朗運(yùn)動(dòng)法納米顆粒測量儀

      強(qiáng)調(diào)物理內(nèi)涵與前沿技術(shù)緊密結(jié)合
      強(qiáng)調(diào)可視化
      同時(shí)觀測多顆粒子,給出粒徑分布圖。
      強(qiáng)調(diào)綜合實(shí)驗(yàn)?zāi)芰ε囵B(yǎng)
      實(shí)驗(yàn)內(nèi)容:
      顆粒樣品制備(濃度配比)
      觀察、描繪布朗運(yùn)動(dòng)軌跡
      測量已知標(biāo)準(zhǔn)樣品粒徑(60nm),作出粒徑分布
      測量未知納米樣品粒徑(如由HT-218制備的納米顆粒),作出粒徑分布
      技術(shù)指標(biāo):
      測量范圍:30-1000nm 平均相對誤差:<5%


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