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塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀實(shí)驗(yàn)精度圖像細(xì)膩
  • 發(fā)布日期:2023-10-25      瀏覽次數(shù):375
    • 用具有5000像元的線(xiàn)陣CCD器件,每像元僅7微米,空間分辨率遠(yuǎn)高于面陣CCD,12位A/D量化,圖像細(xì)膩,分裂環(huán)的光強(qiáng)分布曲線(xiàn)與理論課內(nèi)容吻合,并顯示出更多的細(xì)節(jié),無(wú)需人工干預(yù)修正,定圓心等額外處理,實(shí)驗(yàn)精度≤2%,優(yōu)于面陣CCD方案。

      JCP7光電池光電器件綜合實(shí)驗(yàn)儀

      光電池光電器件綜合實(shí)驗(yàn)儀是04綜合光學(xué)實(shí)驗(yàn)儀的組成部分;也可以單獨(dú)做實(shí)驗(yàn)。
      可以對(duì)光電池,光電阻和光電二極管這三種光電元件的特性進(jìn)行測(cè)量,使學(xué)生對(duì)伏安特性,光強(qiáng)變化以及功率與電阻的關(guān)系等物理現(xiàn)象加深了解。
      實(shí)驗(yàn)內(nèi)容:
      光電池的開(kāi)路電壓測(cè)量,功率與電阻的關(guān)系,填充因子測(cè)量,光強(qiáng)變化與開(kāi)路電壓之間的關(guān)系以及光電池在黑暗狀態(tài)下作二極管用的伏安特性測(cè)量。
      光電阻的伏安特性測(cè)量,光強(qiáng)變化對(duì)光電阻的電壓影響。
      光電二極管的伏安特性測(cè)量。

      JCP8直讀型開(kāi)放式光柵光譜實(shí)驗(yàn)儀

      目視直讀,光路調(diào)節(jié)開(kāi)放式,光源準(zhǔn)直透鏡、光譜成像透鏡、光柵架可調(diào),能鮮明地觀(guān)察到零級(jí)、一級(jí)和二級(jí)譜線(xiàn)分布狀況(600L/mm)。手動(dòng)逐點(diǎn)測(cè)量,適于普物教學(xué)實(shí)驗(yàn)
      實(shí)驗(yàn)內(nèi)容:
      譜儀光學(xué)元件相互幾何關(guān)系調(diào)節(jié),加深對(duì)各個(gè)元件作用的理解;
      觀(guān)察零級(jí)、一級(jí)、二級(jí)譜線(xiàn)分布狀況與光柵轉(zhuǎn)角的關(guān)系;
      光譜定標(biāo)的原理和方法;
      測(cè)量氫光譜,鈉光譜及其它光譜實(shí)驗(yàn)
      波長(zhǎng)范圍:300-900nm 
      焦    距:790 mm
      光    柵:1200L/mm
      接收方式:手動(dòng)逐點(diǎn)測(cè)量
      波長(zhǎng)分辨率:優(yōu)于0.2nm(1200L/mm); 優(yōu)于0.4nm(600L/mm)
      體     積:0.7m*0.3m*0.25m

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